Lehrinhalte
Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie, technischer Aufbau des REM, Wechselwirkung Elektron-Materie, Abbildung mit Sekundär- und Rückstreuelektronen, energiedispersive Röntgenmikroanalyse, Environmental Scanning Electron Microscopy (ESEM).
Literatur
Reimer, L. (1985): Scanning Electron Microscopy.- Springer.
Goldstein, J.I., Newbury, D.E., Echlin, P., Joy, D.C., Fiori, C. & Lifshin E. (2003): Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.- Springer.
Gefährdungsbeurteilung
Keine Teilnahme bei Verdacht auf Schwangerschaft, Schwangerschaft oder in der Stillzeit eines Kindes! Bitte wenden Sie sich zur Beratung an Ihr zuständiges Studienbüro (Dr. Roehl).
Online-Angebote
Moodle
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Reimer, L. (1985): Scanning Electron Microscopy.- Springer.
Goldstein, J.I., Newbury, D.E., Echlin, P., Joy, D.C., Fiori, C. & Lifshin E. (2003): Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.- Springer.
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- Lehrende: Martin Ebert
Semester: ST 2023