Lehrinhalte
Einführung in die Transmissionselektronenmikroskopie, technischer Aufbau des TEM, Wechselwirkung Elektron/Materie, Beugung, konvergente Beugung, Hellfeld-, Dunkelfeldabbildung, Kontrastentstehung an Defekten, Phasenkontrast, Hochauflösung, Interpretation von TEM-Abbildungen (in Hinblick auf Gefüge-Eigenschafts-Korrelation).
Literatur
Williams D.B. & Carter, C.B. (1996): Transmission Electron Microscopy.- Kluwer Academic/Plenum Publ.
Reimer, L. (2006): Transmission Electron Microscopy. Physics of Image Formation and Microanalysis.- 4. Aufl.; Berlin (Springer).
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- Lehrende: Stefan Lauterbach
Semester: WT 2023/24